中国科学家将测试托木斯克国立大学微电子高级研究中心创建的基于砷化镓的传感器。这一发展的一个特点是其对破坏因素的高抵抗力。中方对在医学断层扫描中使用传感器的可能性感兴趣。
目前，托国立科学家在基于铬补偿的高电阻率砷化镓传感器的生产方面处于世界领先地位。这些设备之间的根本区别在于它们读取每个量子并立即将其转换为产生电流脉冲的电荷。也就是说，它们不需要双重转换——从量子到光辐射，然后再到电流脉冲。此外，这项技术使得估算每个量子的能量成为可能。这样可以形成光谱X射线图像，从而增加图像的信息内容。
托国立微电子先进技术中心同步辐射探测器实验室研究员安德烈·扎鲁宾说：“我们的设备测试将在上海的光子传感与成像实验室进行，由赖晓春教授领导。该实验室的员工正在开发一种用于X射线计算机断层扫描(CT)系统的计数探测器，该探测器基于多元件传感器和在计数模式下运行的专用集成电路。中国科学家将对生产的HR GaAs: Cr传感器的特性进行研究。需要详细研究的要点是传感器在高达108量子/像素的负载下的稳定性。X射线断层扫描仪正是在这些最大量子通量强度下运行”。
近日，在上海科技大学访问期间，托国立代表作了题为“Direct conversion of HR GaAs:Cr Pixel Sensors for Spectrum X-ray Imaging”的报告，其中包含了基于矩阵HR GaAs:Cr X射线传感器测试的主要结果。上海科技大学的研究将于2024年夏季左右完成。根据结果，将决定在医疗设备中使用托国立传感器的可能性。
上海科技大学也开展了同步加速器X射线辐射的研究，其来源是中国科学院应用物理研究所的同步加速器。而托木斯克国立大学的科学家则是同步加速器辐射源传感器开发领域的世界领先者。这些传感器已安装在德国同步加速器中心 DESY（德国）、欧洲同步加速器中心 ESRF（法国）和欧洲核研究中心（CERN，瑞士）的研究设施中。